广东体彩网

產品中心
welcome to jingge Electronics
你現在的位置:首頁>>產品中心>>SZT-H型金屬質量電阻率測試臺>>四探針電阻率方阻測試臺SZT-H型金屬質量電阻率測試臺
SZT-H型金屬質量電阻率測試臺
SZT-H型金屬質量電阻率測試臺
蘇州晶格電子有限公司自主研發生產SZT-H型測試臺,金屬質量電阻率測試臺,薄膜方塊電阻測試臺,導電橡膠片電阻率測試臺
產品類別: SZT-H型金屬質量電阻率測試臺
上架時間: 2013/5/2 16:10:53
瀏覽次數: 15635
產品詳細
一 、功能與結構特征概述
SZT-H型測試臺

金屬質量電阻率測試臺

    基本功能:SZT-H型金屬質量電阻率測試臺 配以四探針儀器構成成套測試系統,是運用四端子測量原理的專業測量金屬箔類(質量)電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置。(以下簡稱測試臺)
    基本組成:測試臺測試電極組、升降臺、支架、連接線纜等部件組成。
    配套與兼容本測試臺兼容本公司所有臺式四探針測試儀器。本測試臺可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
    優勢特征SZT-H質量電阻率測試臺符合國標《GB/T 5230-1995》中對金屬箔類質量電阻率測試要求,測試電極采用銅質刀架制成,故定位準確、游移率小、接觸良好;測試結果由數字表頭直接顯示。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、測量簡便等特點。
    儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對半導體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測試。特別適用于要求快速測量中低方阻及要求結果分選的場合。

二、技術參數(配ST2258A型多功能數字式四探針測試儀)

2.1 測量范圍、分辨率(有所配儀器決定)
  (1)方阻測試范圍*以配SZT-H測試臺為例)
    測量膜寬:1mm≤B≤50mm
    基本方阻測量值:1.0×10-6 ~1.2×103 Ω/□,分辨率:1.0×10-7 ~1.0×100  Ω/□。
    具體膜寬w與測量范圍關系見圖2-1A。
 (2)電阻率測試范圍(以配SZT-H測試臺為例)
  (厚度d<10mm,寬w<50mm)
    基本電阻率測量值: 1.0×10-6 ~ 1.2×103 Ω*cm,分辨率:1.0×10-7 ~ 1.0×100  Ω*cm。
    具體截面s與測量范圍關系見圖2-1B。
2.2 SZT-H測試刀架:
   ⑴電壓刀片間距:150mm±0.2% ,刀刃長60mm
   ⑵電流刀片間距: 300mm,刀刃長60mm
   ⑶測試臺架外型尺寸:360×200×240(長×寬×高)
三、詳情請登陸蘇州晶格電子有限公司官方網站
   查看《SZT-H金屬質量電阻率測試臺技術使用說明書》
 
四、聯系方式:18914021918/0512-80973697   QQ:1064887318 丁先生
填寫咨詢內容:
  • 訂購產品: *
  • 姓 名: *
  • 電 話: *
  • 郵 箱: *
  • 備注信息:
  • 驗證碼:
  •       
版權所有 蘇州晶格電子有限公司/ 技術支持: /
收縮
  • QQ咨詢

  • 在線咨詢

廣東體彩網-官網